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J-GLOBAL ID:201702283699718119   整理番号:17A1027847

機能試験プログラムの実行時間を短縮するための新しい技術【Powered by NICT】

New Techniques to Reduce the Execution Time of Functional Test Programs
著者 (4件):
資料名:
巻: 66  号:ページ: 1268-1273  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0233A  ISSN: 0018-9340  CODEN: ICTOB4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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プロセッサシステムのためのテストプログラムの締固めが最も実用的に重要である:ソフトウェアベース自己テスト(SBST)は,今日,特に安全応用の現場試験のための増加傾向にあり,サイズと試験の実行時間の両方が重要なパラメータである。しかし,2進数試験シーケンスの大きさを締固め年間徹底的に研究されているが,テストプログラムの実行時間の削減が,研究の調べられていない領域である。本論文では,既存の試験プログラムを自動的に強調できるアルゴリズムの族を記述し,それを実行するのに必要な時間と,副作用として,そのサイズを減少させた。提案した解決策は命令除去と回復,命令除去単独よりも計算的により効率的であることを示し,に基づいている。実験結果は,締固め能力を示し,異なるアルゴリズムの計算コストと有効性を解析した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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