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J-GLOBAL ID:201702283708123886   整理番号:17A1458576

場所におけるクリーン後の原子間力顕微鏡を用いたステンレス鋼に及ぼす残留ナノスケール汚染物質の同定【Powered by NICT】

Identification of residual nano-scale foulant material on stainless steel using atomic force microscopy after clean in place
著者 (7件):
資料名:
巻: 214  ページ: 236-244  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0838B  ISSN: 0260-8774  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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定置洗浄(CIP)の間,溶液は土壌を除去するプロセス装置を通してポンピングした。CIPの投入量の削減を検証するために,汚染物は現在の工場の実際より小さい規模で検出,定量する必要がある。本研究では,蛍光顕微鏡は,CIP後汚れたステンレス鋼試験片の巨視的清浄度を定量化するために用いた。漸近モデルをクーポン曝露時間と洗浄溶液温度の関数としての土壌の除去を記述するために用いた。これらのモデルから,洗浄パラメータを決定し,99.0と99.9%クリーンであると予測された試験片を生成するために用いた。清浄度を原子間力顕微鏡(A FM)を用いて検証した。A FMは1.0×10~4μm~2地域の5μm~2のために汚損物質を同定した。A FMは99.41から99.94%の範囲の清浄度を示した。予測と実際の清浄度の間の違いは,異なるスケールでの洗浄機構の変化を示唆した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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工場衛生・衛生工学一般 

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