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J-GLOBAL ID:201702283741987186   整理番号:17A1039473

干渉計を辿る 第4章 光学実験法(干渉計実験法)

著者 (1件):
資料名:
号: 454  ページ: 890-898  発行年: 2017年08月25日 
JST資料番号: Z0994A  ISSN: 0911-5943  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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本稿では,干渉計実験法について紹介する。実験の方法としては,定盤の上に自由に光学部品を並べる方法を採用した。本研究では,箱型定盤と呼ばれる,鋳鉄製でリブの入った定盤を用いたが,重量があり除振能力が高く不満なく使用できた。これらの定盤を防振台に乗せて使うわけであるが,市販の空気ばね式のもので十分であるが,自動的に水平を維持できるレベリング機構のついたものが望ましい。干渉計実験に使用する光源として,ヘリウムネオン(He-Ne)レーザーが良い。干渉計を較正する光学部品は,最低限必要なものとして,(ビーム発散用)対物レンズ,コリメーターレンズ,ビームスプリッター,平面ミラー(2枚)がある。それらをホールドし定盤に固定する,ホルダー類,ポール,スタンド,マグネットペースがある。そのほかに,レーザービームを引き回すための小型のミラーとそのホルダー類も必要である。工学実験び光学調整をするときに,あると便利な工具をいくつか紹介する。ガラス板,Vブロック,メジャー,衝立,エタノール(無水アルコール)とハンドラップとシルボン紙(ダスパー)等が挙げられる。さらに,以下の光軸調整が必要である。(1)He-Neレーザーの偏光方位の調整,(2)光軸の決定,(3)コリメーターレンズの位置調整,(4)対物レンズの調整,(5)コリメーターの再調整,(6)ビームスプリッターと平面ミラーの調整,(7)補助レンズ(集光レンズ)を用いた調整法,(8)ゴミによる干渉縞とスペイシヤルフィルター,(9)迷光の除去とスペイシャル(空間)フィルター,である。
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光学的測定とその装置一般  ,  光デバイス一般 
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