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J-GLOBAL ID：201702284097480264   整理番号：17A0825248

FPGA構成洗浄へのハイブリッドアプローチ【Powered by NICT】

A Hybrid Approach to FPGA Configuration Scrubbing

著者 (4件)： Stoddard Aaron (Department of Electrical and Computer Engineering, NSF Center for High-Performance Reconfigurable Computing (CHREC), Brigham Young University, Provo, UT, USA) ,  Gruwell Ammon (Department of Electrical and Computer Engineering, NSF Center for High-Performance Reconfigurable Computing (CHREC), Brigham Young University, Provo, UT, USA) ,  Zabriskie Peter (Department of Electrical and Computer Engineering, NSF Center for High-Performance Reconfigurable Computing (CHREC), Brigham Young University, Provo, UT, USA) ,  Wirthlin Michael J. (Department of Electrical and Computer Engineering, NSF Center for High-Performance Reconfigurable Computing (CHREC), Brigham Young University, Provo, UT, USA)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 64  号： 1  ページ： 497-503  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,これらのデバイス内で利用可能な高速内部洗浄を組み合わせた外部スクラッバをXilinx VIIシリーズFPGAのためのFPGA構成スクラッバアプローチを提案した。内部洗浄ユニットは連続的にFPGA構成メモリのフレームをモニターし,単一ビットフレーム誤差を修正し,使用マルチビットフレーム誤差を検出することである。マルチビットアップセットは主にFPGA布への外部二次洗浄機構によって修復される。Xilinx VIIシリーズハイブリッド構成洗浄構造は数マイクロ秒のXC7Z020デバイスの25,636,224ビットを走査し,8ms以内に混乱を検出し,次いでさらに,6msで最も多重セルアップセットを修正するこの構成スクラッバは配置故障注入と中性子照射試験で検証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 記憶装置 ,  中性子照射 ,  *FPGA ,  高速度 ,  多重化 ,  スクラッバ
準シソーラス用語： 故障注入 ,  マイクロ秒 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 医用画像処理  (JE04020T)

タイトルに関連する用語 (3件)： FPGA ,  洗浄 ,  ハイブリッドアプローチ