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J-GLOBAL ID：201702284225874194   整理番号：17A1255244

放射線試験中の再構成可能FPGAにおけるオンラインモニタリングソフトエラー【Powered by NICT】

Online monitoring soft errors in reconfigurable FPGA during radiation test

著者 (2件)： Du Boyang (Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy) ,  Sterpone Luca (Dipartimento di Automatica e Informatica, Politecnico di Torino, Torino, Italy)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： I2MTC  ページ： 1-5  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 迅速技術スケーリングのために,電子デバイスは放射線粒子によって誘起されるソフトエラー,航空宇宙応用のための重大な挑戦であるに対してより感受性になってきている。一方フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)デバイスは,安全性と増加性能と柔軟性をもつ近年ミッションに不可欠なアプリケーションにおいてそれらが提供する注目を集めている。デバイス技術に応じて異なる遺伝子型FPGAの中で,FPGA上に実装し,マッピング回路設計の構成データを記憶することに使用される,SRAMセルは放射線誘起ソフトエラーに対して最も敏感なデバイスの一つであるとしてSRAMベースFPGAは,ソフトエラーに対してより高い感度を有していた。,セーフティクリティカルな環境におけるSRAMベースFPGAの使用を保証するために,上にマッピングされた設計は,効果的な検証と妥当性確認手順を必要とする。放射線試験は,放射線誘起ソフトエラーの影響に関する検証方法の一つである。本論文では,照射試験中のソフトエラーを監視するための自動化装置を示し,分析ツールにより提供される放射線試験から得られた測定を比較した。は得られた実験結果は,提案した測定プラットフォームの実現可能性を実証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 遺伝子型 ,  照射試験 ,  安全性 ,  *放射線 ,  回路設計 ,  *ソフトエラー ,  自動化 ,  柔軟性 ,  *FPGA ,  SRAM ,  応用プログラム ,  感受性
準シソーラス用語： 解析ツール ,  妥当性確認 ,  再構成可能性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 放射線 ,  試験 ,  再構成可能 ,  FPGA