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J-GLOBAL ID：201702284231152425   整理番号：17A0328666

三モードスキャンベース試験パラダイム【Powered by NICT】

Trimodal Scan-Based Test Paradigm

著者 (5件)： Mrugalski Grzegorz (Mentor Graphics Corporation, Wilsonville, OR, USA) ,  Rajski Janusz (Mentor Graphics Corporation, Wilsonville, OR, USA) ,  Solecki Jedrzej (Mentor Graphics Corporation, Wilsonville, OR, USA) ,  Tyszer Jerzy (Faculty of Electronics and Telecommunications, Poznan ́ University of Technology, Poznan ́, Poland) ,  Wang Chen (Mentor Graphics Corporation, Wilsonville, OR, USA)
資料名： IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems  (IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻： 25  号： 3  ページ： 1112-1125  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0516A  ISSN： 1063-8210  CODEN： ITCOB4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 試験(DFT)パラダイムのための新しいスキャンベース設計を提示した。ノンヘリカルスキャンと比較して,提示した手法は,高い故障検出率を維持しながら,テスト実行時間を著しく減少させるまたは同じ時間間隔内ではるかに大きい数ベクトルのを適用することができる。等しく重要な因子は試験中のトグリング活性であるこの方法で,ミッションモードのそれと類似している。いくつかの技術は最新のテスト生成とその利用方法と提案方式の統合を可能にすることを紹介した。特に,新しいスキームは,test-per-clock方式原理と共に使用するための異なる運転モードへのスキャンチェーンを動的に再設計されたスキャンセルを使用した。大規模で複雑な工業用特定用途向けIC設計のための得られた実験結果は,DFT流を横切る構造変化と運用をで必要とされる追加費用と努力にもかかわらず提案した試験方式の実現可能性を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 再設計 ,  ベクトル ,  *ASIC ,  故障検出 ,  運転モード
準シソーラス用語： 構造変化 ,  テスト生成 ,  時間間隔 ,  実行時間 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： スキャン ,  試験 ,  パラダイム