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J-GLOBAL ID：201702284432277161   整理番号：17A0886144

TRO:オンチップリング発振器ベースGHz過渡IRドロップモニタ【Powered by NICT】

TRO: An On-Chip Ring Oscillator-Based GHz Transient IR-Drop Monitor

著者 (6件)： Wang Xiaoxiao (Beihang University, Beijing, China) ,  Jiao Pengyuan (Beihang University, Beijing, China) ,  Sadi Mehdi (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Florida, Gainesville, FL, USA) ,  Su Donglin (Beihang University, Beijing, China) ,  Winemberg LeRoy (NXP Semiconductors, Austin, TX, USA) ,  Tehranipoor Mark (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Florida, Gainesville, FL, USA)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 36  号： 5  ページ： 855-868  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 更なるスケールシリコン技術を用いて,スイッチング動作では近代的な設計でより強くなってきている。GHz動作周波数と共に大きなスイッチング活性はIRドロップノイズを発生させることにより電力完全性に大きく影響する。過剰なIR降下はタイミング故障,異常なリセットとSRAMフリッピングのような機能障害を引き起こす可能性がある。IR降下を現場監視する必要がある。しかし,過渡IR降下波形を直接測定する通常高い設計や装置コストを含んでいる。発振器ベースの過渡IR降下モニタ(TRO)低コストオンチップGHzリングを紹介した。TROは全ディジタル要素で構成されると,無視できるオーバヘッドで既存のIC設計フローに容易に統合できる。伝統的過渡IR降下モニタとは異なり,TROはIR降下波形幅と平均磁場中を測定するが,IR降下ピークを明らかにし,データ解析や顧客収益,カスタム回路または高周波サンプリングクロックの必要性を除去する時に一過性のノイズ波形を再構成する。シミュレーション結果は,TROが100mVと1.0nsより大きなピークと幅をもつIR降下,GHz ICモニタリングに適したに敏感であることを示した。IRドロップノイズ幅検出分解能は提案したエッジ検出器の助けで0.125nsとより高くに達する,雑音ピークと幅測定誤差率6.8%と9.0%以下の,プロセス変動を考慮したモンテカルロ試料の97%である。結果と分析によれば,TROは1クロックサイクル内での迅速な適応を誘発することもできた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 再構成 ,  *リング発振器 ,  測定誤差 ,  データ解析 ,  ディジタル方式 ,  SRAM ,  *発振器 ,  分解能 ,  スイッチング ,  雑音 ,  *監視装置 ,  完全性 ,  エッジ検出 ,  プロセス変動
準シソーラス用語： *オンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  発振回路  (NC05020Y)

タイトルに関連する用語 (6件)： オンチップ ,  リング発振器 ,  GHz ,  Ir ,  ドロップ ,  モニタ