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J-GLOBAL ID：201702284883000221   整理番号：17A1276364

2kHz以上でのHF擾乱による寿命の減少を推定するための電子量産装置のトポロジー同定【Powered by NICT】

Topology identification of electronic mass-market equipment for estimation of lifetime reduction by HF disturbances above 2 kHz

著者 (5件)： Waniek Christian (TU Dortmund University, Germany) ,  Wohlfahrt Thomas (TU Dortmund University, Germany) ,  Myrzik Johanna M.A. (TU Dortmund University, Germany) ,  Meyer J. (Technische Universitaet Dresden, Germany) ,  Schegner P. (Technische Universitaet Dresden, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： Powertech  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： グリッドにおける高周波(HF)歪による電子機器の寿命の減少を評価するために,測定だけで典型的な家庭電器の回路トポロジーを同定する方法を提示した。手順は二装置の実験室測定により説明した。この方法に基づいて,回路トポロジーは2kHz~150kHzの周波数範囲でHF擾乱によって強調したことを内蔵成分を分析する。,家庭電器のための三つの主要なトポロジーを記述すると共にこれらのトポロジーに及ぼすHF外乱の影響を導出した。さらに,HF擾乱を考慮した,ストレスを受けた内蔵部品の例としての電解コンデンサの加齢は他の家庭装置の実験室測定に基づいて記述と計算し,エージング実験のためのテストプラットフォームの装置を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電子装置 ,  周波数 ,  *大量生産 ,  家庭電器 ,  *位相幾何学 ,  電解コンデンサ ,  HF【周波数】
準シソーラス用語： 内蔵 ,  回路トポロジー , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 発振回路  (NC05020Y) ,  LCR部品  (NA05030D) ,  雑音一般  (ND04010J)

タイトルに関連する用語 (8件)： HF ,  擾乱 ,  寿命 ,  推定 ,  電子 ,  量産 ,  トポロジー ,  同定