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J-GLOBAL ID：201702285423705553   整理番号：17A1269422

距離変換法を応用したSEM画像の幾何学的特徴の解析【Powered by NICT】

Analyzing geometric features of SEM image by applying distance transformation method

著者 (3件)： Lee Chih-Hung (Department of Electronic Engineering, National Quemoy University, Kinmen, Taiwan) ,  Lu Hoaying (Department of Electronic Engineering, National Quemoy University, Kinmen, Taiwan) ,  Horng Ji-Hwei (Department of Electronic Engineering, National Quemoy University, Kinmen, Taiwan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICASI  ページ： 1355-1358  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： バルク材料又は薄膜の生産において,科学者は通常結晶粒の幾何学的特徴とSEM画像による材料のいくつかの統計的性質について知るしようとしている。特に,粒界に結晶粒の面積比は,アプリケーションにおいて重要な役割を果たしている。密度,誘電率,疎水性,親水性,圧電定数,焦電係数,および剛性のようないくつかの基本的性質を深くそれによって影響される。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 誘電率 ,  薄膜 ,  結晶粒界 ,  疎水性 ,  科学者 ,  剛性 ,  親水性 ,  *結晶粒 ,  応用プログラム
準シソーラス用語： 焦電係数 ,  圧電定数 ,  面積比 ,  統計的性質 ,  *SEM画像 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 圧電気,焦電気,エレクトレット  (BM05040M) ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (5件)： 距離変換 ,  応用 ,  SEM画像 ,  幾何学的特徴 ,  解析