抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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Android応用のための自動GUI横断ベーステストケース生成技術に関する多くの研究である。しかし,GUI横断アルゴリズムで用いた異なる要因の影響を系統的に調べられていない。本研究では,それらの実際の故障を明らかにするこの種の応用のための試験ツールで通常観察される三つの主要な因子を系統的に研究する33件の実世界応用に関する制御された実験を報告した。GUI状態等価性の概念,状態探索(または探査)戦略,二入力事象間待つ時間量を含んでいる。著者らの実験結果は,GUI状態等価性の異なる概念は故障検出率と被覆率に有意に異なる影響を持つことを明確に示し,ランダム化された探索は系統的探索に匹敵し,待ち時間戦略の異なる選択は試験有効性に関して有意差を持たなかった。も本論文で他の興味ある結果を報告した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】