量子ビームを用いたガラス・非晶質材料のナノスケール構造解析  オングストロームビーム電子回折法による不均一非晶質酸化物の構造解析

平田秋彦; 平田秋彦; 今井英人; CHEN Mingwei

文献

J-GLOBAL ID：201702285604298133 整理番号：17A0568346

量子ビームを用いたガラス・非晶質材料のナノスケール構造解析オングストロームビーム電子回折法による不均一非晶質酸化物の構造解析

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巻： 52 号： 5 ページ： 345-348 発行年： 2017年05月01日
JST資料番号： S0291A ISSN： 0009-031X CODEN： SERAA7 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：解説発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

非晶質物質の構造解析において,より確からしい3次元構造を推定するため,X線散乱,中性子散乱,EXAFS,NMRなどを相補的に利用することにより,特定元素の周辺環境の情報を分離することが可能となり,複雑な多成分系解析の見通しが非常に良くなる。しかし,構造が空間的に不均一である場合にはいくつかの異なる構造的特徴を持つ領域からの情報が重なって得られることになるため,実験によって重なった情報を分離する必要が生じる。本解説記事では,非晶質の局所構造情報を分離して得るための,走査型透過電子顕微鏡(STEM)を使ったオングストロームビーム電子回折法について概説し,この手法と放射光X線散乱法を組み合わせて行った不均一アモルファス一酸化シリコン(SiO)の構造解析例を紹介した。

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その他の非晶質の構造

引用文献 (16件)：

S. R. Elliott, ′′Physics of Amorphous Materials 2nd edn.′′, Longman, London (1990).
Y. Waseda, ′′Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization′′, Springer-Verlag Berlin Heidelberg (2002).
A. Hirata, P. F. Guan, T. Fujita, Y. Hirotsu, A. Inoue, A. R. Yavari, T. Sakurai and M. W. Chen, Nature Mater., 10, 28-33 (2011).
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A. Hirata, S. Kohara, T. Asada, M. Arao, C. Yogi, H. Imai, Y. W. Tan, T. Fujita and M. W. Chen, Nat. Commun., 7, 11591 (2016).

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量子ビームを用いたガラス・非晶質材料のナノスケール構造解析 オングストロームビーム電子回折法による不均一非晶質酸化物の構造解析

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