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J-GLOBAL ID：201702285675783190   整理番号：17A1355040

アナログ回路における故障検出に適用したcorrentropy【Powered by NICT】

Correntropy applied to fault detection in analogue circuits

著者 (1件)： Da Silva Jose Machado (INESC TEC, FEUP, Universidade do Porto Porto, Portugal)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IMSTW  ページ： 1-5  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 市場への展開電子システムの信頼性の高いレベルを保証するために求められる効率的な試験と診断法。これらの方法は試験ノード,試験刺激の複雑さ,面積オーバヘッド,データを処理への接近可能性に関してトレードオフを含み,関与する作業は,最終的なコスト,性能,信頼性これらの系により提示した影響を決定になる。ここで示した研究は,故障検出決定過程におけるテスト応答を効率的に分析する手段として相関エントロピーの適用で得られた予備結果を報告した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電子装置 ,  信頼性 ,  *アナログ回路 ,  アクセシビリティ ,  *故障検出 ,  エントロピー

分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (2件)： アナログ回路 ,  故障検出