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J-GLOBAL ID：201702285725036277   整理番号：17A0638660

拡散に基づく界面不均一性のキャラクタリゼーション

Using Diffusion To Characterize Interfacial Heterogeneity

著者 (3件)： KIJEWSKA Krystyna (Michigan State Univ., Michigan, USA) ,  KIJEWSKA Krystyna (Univ. Warsaw, Warsaw, POL) ,  BLANCHARD Gary J. (Michigan State Univ., Michigan, USA)
資料名： Langmuir  (Langmuir)
巻： 33  号： 5  ページ： 1155-1161  発行年： 2017年02月07日 
JST資料番号： A0231B  ISSN： 0743-7463  CODEN： LANGD5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シリカ基板表面にLangmuir-Blodget法によりステアリン酸単分子層またはステアリン酸/ペルフルオロトリデカン酸混合単分子層を作製した。Brewster角顕微鏡およびπ-A等温線によりキャラクタリゼーションを行った。ピレン分子の表面拡散を蛍光異方性減衰イメージング(FADI)による回転拡散および光退色後蛍光再生(FRAP)による並進拡散の観測に基づいて拡散定数を求め,スポットサイズによる並進拡散の非線形変化に基づいて単分子層の構造不均一性を検討した。

シソーラス用語： 単分子層 ,  Langmuir-Blodgett膜 ,  偏光顕微鏡 ,  等温線 ,  *表面拡散 ,  *異方性 ,  *蛍光減衰 ,  蛍光測定 ,  *蛍光分析 ,  *回転拡散 ,  *拡散速度 ,  *拡散係数 ,  *不均一性 ,  蛍光標識 ,  脂肪酸 ,  芳香族縮合炭化水素
準シソーラス用語： Brewster角顕微鏡 ,  *FRAP【蛍光分析】 ,  π-A等温線 ,  シリカ基板 ,  拡散定数 ,  蛍光イメージング ,  蛍光異方性 ,  並進拡散

分類 (4件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E) ,  固体中の拡散一般  (BL06021L) ,  ミセル  (CB11020N) ,  有機化合物のルミネセンス  (BM08094A)

物質索引 (3件)： ステアリン酸 ,  ピレン ,  ペルフルオロトリデカン酸

タイトルに関連する用語 (4件)： 拡散 ,  界面 ,  不均一性 ,  キャラクタリゼーション