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J-GLOBAL ID：201702285814333036   整理番号：17A0518165

慣性センシングのための磁気誘導セシウム干渉計

Magnetically guided Cesium interferometer for inertial sensing

著者 (8件)： Qi Lu (School of Instrumentation Science and Opto-Electronics Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China) ,  Hu Zhaohui (School of Instrumentation Science and Opto-Electronics Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China) ,  Valenzuela Tristan (RAL Space, STFC Rutherford Appleton Laboratory, Didcot OX11 0QX, United Kingdom) ,  Zhang Yuchi (College of Physics and Electronics Engineering, Shanxi University, Taiyuan 030006, China) ,  Zhai Yueyang (School of Instrumentation Science and Opto-Electronics Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China) ,  Quan Wei (School of Instrumentation Science and Opto-Electronics Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China) ,  Waltham Nick (RAL Space, STFC Rutherford Appleton Laboratory, Didcot OX11 0QX, United Kingdom) ,  Fang Jiancheng (School of Instrumentation Science and Opto-Electronics Engineering, Beihang University, Beijing 100191, China)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 110  号： 15  ページ： 153502-153502-5  発行年： 2017年04月10日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *センサ ,  磁気誘導 ,  *干渉計 ,  *セシウム ,  X線干渉計 ,  光学 ,  速度測定 ,  加速度測定 ,  回転センサ ,  *慣性センサ
準シソーラス用語： Talbot-Lau干渉計 ,  磁気光学

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (5件)： 慣性 ,  センシング ,  磁気誘導 ,  セシウム ,  干渉計