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J-GLOBAL ID：201702285912585301   整理番号：17A1351046

動作領域遷移の監視と分類によるEMC臨界装置の同定【Powered by NICT】

Identifying EMC-critical devices by monitoring and classifying operating region transitions

著者 (4件)： Duipmans Lammert (MsM group, Eindhoven University of Technology, the Netherlands) ,  Milosevic Dusan (MsM group, Eindhoven University of Technology, the Netherlands) ,  van der Wel Arnoud (NXP Semiconductors, Eindhoven, the Netherlands) ,  Baltus Peter (MsM group, Eindhoven University of Technology, the Netherlands)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： EMCCompo  ページ： 9-14  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多くの非線形回路では,回路は電磁干渉(EMI)を受ける,電磁両立性(EMC)故障をもたらすときDC動作点はシフトするかも知ない。このような故障の解析は古典的に全回路の過渡シミュレーションを用いて行った。大規模回路に対して,この方法は計算的限界に起因する実用的でない。は非常に大規模回路を解析し,EMIの存在下で強い非線形挙動を受ける装置を同定できることを計算的に安価な方法を提案した。デバイスは,動作領域遷移に悩まされている検査によりそのように行う。次に,EMI問題への寄与の観点からデバイスを優先順位付けするためのこれらの遷移を分類した。法はレベルシフタ回路,市販製品に広く使用されている代表的事例に関して良好に動作することを実証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電磁干渉 ,  電磁両立性 ,  *臨界 ,  故障 ,  非線形回路
準シソーラス用語： 低価格 ,  過渡シミュレーション , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 雑音一般  (ND04010J) ,  フィルタ一般  (NC04021I) ,  プリント回路  (NA05040O) ,  電力変換器  (NB08030B) ,  雑音測定  (ND04030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 遷移 ,  分類 ,  EMC ,  臨界 ,  同定