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J-GLOBAL ID：201702286177978458   整理番号：17A1235851

複雑なX線蛍光スペクトルのフィッティングに対する相対全L副殻X線発光強度とその影響【Powered by NICT】

Relative total L-subshell X-ray emission intensities and their impact on the fitting of complex X-ray fluorescence spectra

著者 (4件)： Ganly Brianna (CSIRO Mineral Resources, Canberra, ACT, Australia) ,  Ganly Brianna (University of New South Wales, Sydney, NSW, Australia) ,  Van Haarlem Yves (CSIRO Mineral Resources, Canberra, ACT, Australia) ,  Tickner James (CSIRO Mineral Resources, Canberra, ACT, Australia)
資料名： X-Ray Spectrometry  (X-Ray Spectrometry)
巻： 46  号： 5  ページ： 336-340  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0456B  ISSN： 0049-8246  CODEN： XRSPAX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： I_L2/I_L3とI_L1/I_L3,相対全L subshellX線発光強度は17.4keVで元素Er,Tm,Yb,Hf,Ta,W,Pt及びAuについて報告された,ほぼ単色X線を用いて測定した。X線スペクトルはフィルタをかけたX線管源とシリコンドリフト検出器を用いて記録した。個々の線遷移の強度を決定し,スペクトル線広がりと検出器アーチファクトを説明した注意深いあてはめ。線強度は,L1,L2及びL3全X線放出速度を得るために合計した。相対全L副殻発光強度も副殻光イオン化断面積,蛍光収率とCoster-Kronig遷移確率の推奨値を用いて計算した。これら受け入れられている文献値との間の悪い一致と実験結果を見出した。簡単なモデリング運動は線強度と全副殻X線放出速度の不正確な文献値を用いた複雑なL shellX線蛍光スペクトルのフィッティングに及ぼす影響を調査するために実施した。大きな誤差は種々のL副殻からの全相対的X線発光に対して不正確な値と当てはめた時,導入できることを見出した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： スペクトル線広がり ,  光イオン化 ,  *X線 ,  モデリング ,  検出器 ,  金 ,  断面積 ,  X線管 ,  *蛍光スペクトル ,  アーチファクト ,  *蛍光 ,  *X線ルミネセンス ,  X線スペクトル ,  遷移確率
準シソーラス用語： *発光強度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： X線スペクトル  (BH03040J) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (5件)： X線 ,  蛍光スペクトル ,  フィッティング ,  殻 ,  X線発光