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J-GLOBAL ID：201702286522420976   整理番号：17A1274005

ICの収量電力最適化のための適応電源電圧とデューティサイクル制御器【Powered by NICT】

Adaptive supply voltage and duty cycle controller for yield-power optimization of ICs

著者 (2件)： Cha Soonyoung (School of Electrical and Computer Engineering, Georgia histitute of Technology, Atlanta, GA, USA) ,  Milor Linda (School of Electrical and Computer Engineering, Georgia histitute of Technology, Atlanta, GA, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IWASI  ページ： 133-138  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シリコン技術の積極的スケーリングにより,集積回路(IC)の収率は顕著な関心事として浮上してきた。収量損失は,ナノスケールCMOS製作の不正確によって導入されたプロセス変動により誘導されるタイミング問題に由来する。この懸念に対処するために,著者らは収率と電力の最適化を支援するためのシステムを開発した。システムは,タイミング違反を回避し,供給電圧を可能な限り低減するタイミング違反センサ,クロックデューティサイクル制御器,および動的電圧スケーリング技術から構成されている。破壊確率マップを用いて,例マイクロプロセッサシステムの収率と性能向上を評価した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *最適化 ,  破壊確率 ,  ケイ素 ,  センサ ,  集積回路 ,  *電力 ,  *制御装置 ,  CMOS
準シソーラス用語： 動的電圧スケーリング ,  供給電圧 ,  プロセス変動 ,  ナノスケール ,  *デューティサイクル ,  *電源電圧 ,  *電力最適化 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (7件)： IC ,  収量 ,  電力最適化 ,  適応 ,  電源電圧 ,  デューティサイクル ,  制御器