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J-GLOBAL ID：201702286593500372   整理番号：17A0020772

ATEベースハードウェアを用いた100Gb/sトランシーバへの光相互接続試験法【Powered by NICT】

An Optical Interconnection Test Method Applicable to 100-Gb/s Transceivers Using an ATE Based Hardware

著者 (8件)： Shirahata Kazuki ,  Mizushima Takeshi ,  Fujibe Tasuku ,  Matsumura Hidenobu ,  Itakura Tomoyuki ,  Ishida Masahiro ,  Watanabe Daisuke ,  Masuda Shin
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： ATS  ページ： 263-268  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： データセンタ内ネットワークトラヒックを増加させる劇的100Gb/s光送受信機のための大量生産を必要とする。本論文では,光学と電気の両方のフロントエンドを用いた自動試験装置(ATE)を用いた光送受信機のための高スループット試験方法を提案した。提案した解法を用いて,4.4倍高いスループットを達成することができた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： スループット ,  大量生産 ,  自動試験 ,  データセンタ ,  *送受信機
準シソーラス用語： ハイスループット ,  光トランシーバ ,  *試験方法 ,  *光インターコネクション , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 無線通信一般  (ND08010L) ,  信号理論  (ND02020G) ,  マイクロ波・ミリ波通信  (ND08020W)

タイトルに関連する用語 (4件)： ハードウェア ,  トランシーバ ,  光相互接続 ,  試験法