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J-GLOBAL ID:201702286647976006   整理番号:17A1262449

機械的に設計された光ファイバ干渉計によるナノ歪のプロービング【Powered by NICT】

Probing Nanostrain via a Mechanically Designed Optical Fiber Interferometer
著者 (6件):
資料名:
巻: 29  号: 16  ページ: 1348-1351  発行年: 2017年 
JST資料番号: T0721A  ISSN: 1041-1135  CODEN: IPTLEL  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ナノスケール歪測定のための新しい機械的設計と外因性Fabry-Perot干渉計(EFPI)に基づく光ファイバセンサを提案した。提案センサでは,設計した機械的構造は円筒とステンレス鋼基板に付着した角柱から構成されている。パッケージEFPIセンサとしてのファイバセラミックフェルールと金被覆反射鏡に沿ったこの簡単でコンパクトな構造は温度自己補償を持つナノスケールの歪を解決することができる。既存nanostrainセンシング方法と比較して,参照センサと複雑な形状が必要である。0~677nεから提案したセンサ範囲で測定された歪±5 nεの測定精度であった。このロバスト性および容易に構築できる幾何学ベースのナノスケール歪センサは,ナノテクノロジー,地球物理学的研究地震モニタリング,および他の実用的応用において大きな可能性を有する。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (4件):
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光導波路,光ファイバ,繊維光学  ,  固体デバイス製造技術一般  ,  その他の光伝送素子  ,  光デバイス一般 
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