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J-GLOBAL ID:201702287276088310   整理番号:17A1555227

高加速ストレス試験法(HAST)の下での白色LEDの劣化挙動【Powered by NICT】

The degradation behaviors of white LEDs under highly accelerated stress testing (HAST)
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: ICEPT  ページ: 759-763  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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GaN系LEDの信頼性は,研究者が積極的に従事する注目されている。現在,短い試験期間におけるGaN系LEDの寿命を評価するまだ未解決の問題である。熱と湿度応力はLED製品は現場応用があることを二つの主要な環境ストレスである。デバイスのレベルでは,LEDは,振動に敏感。短期間に白色LED素子の信頼性(寿命と故障率を含む)を評価するために,高加速ストレス試験(HAST)法を本論文で大胆に試みた。一連のHAST条件の熱的,電気的及び湿度応力の異なる組合せを通して設計した。温度は120°Cに固定,バイアス電流は20mA~350Maの間に変化し,湿度は65%~95%RH,炉は1atmより高い内部圧力を意味するの間で変化した。順方向電圧と光強度は1分ごとの時間ステップでその場監視した。予備的な結果は,L70の白色LED素子の寿命はHAST湿度条件下でGauss分布に従うことを示し,一方,L70寿命は注入電流密度変動を持つ逆べき分布に従う。Arrhenius方程式,逆べき乗則方程式とGauss方程式に基づいて,コピュラ加速モデル方程式は,熱,電気,及び湿度応力に関して確立した。例として,20mAと85%RHおよび120°Cの条件下で促進因子は118.0と109.2と推定した。白色LED素子のL70の一般的な寿命は16926.9時間と5722.5時間でそれぞれ推定した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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発光素子 
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