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J-GLOBAL ID:201702287297239082   整理番号:17A1523078

アレイCCDに基づくポリエチレン薄膜の欠陥検出法に関する研究【JST・京大機械翻訳】

Research on defect detection method for polyethylene thin film based on planar array CCD
著者 (2件):
資料名:
巻: 54  号:ページ: 78-82  発行年: 2017年 
JST資料番号: C3447A  ISSN: 1001-1390  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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電線ケーブルは現代経済と国家建設の正常運転の基礎的な保障であり、人々の日常生活と関係がある製品である。ケーブル材料、即ち絶縁とプラスチック用プラスチックは、電線ケーブル製品の重要な構成部分であり、その品質と性能は直接に電気設備の安全性と信頼性に影響を与える。ポリオレフィン薄膜は典型的なケーブル絶縁材料であり、相対密度が小さく、耐食性が強く、耐水性がよいなどの特性を有する。しかし、薄膜加工過程において、表面に発生する微小突起が形成され、欠陥が形成され、これがケーブルの局部放電を引き起こす主な要素である。そのため、表面の隆起を正確に検出し、制御することは、電力の安全性にとって極めて重要である。ポリエチレンの半導電性遮蔽膜を研究対象として、表面CCD画像センサを用いて微小突起の原画像を取り込み、形態学画像処理方法を用いて微小突起の特徴情報を取得し、八近傍連結検出原理に基づいて欠陥の抽出と標識を実現した。最後に、三角形の原理計算によって微小突起の高さと体積を獲得した。実験結果は,この方式が完全に効果的であることを示した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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電線・ケーブル 

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