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J-GLOBAL ID：201702287406592527   整理番号：17A1268397

過渡自由ダイオードに基づく同期スイッチを用いたコンデンサエージングの低減【Powered by NICT】

Reduction of capacitor aging by the use of transient-free diode-based synchronous switch

著者 (4件)： Ragaini Enrico (Electrification Products, ABB, Italy) ,  Viaro Francesco (Electrification Products, ABB, Italy) ,  Montanari Gian Carlo (Dept. of Electrical Energy and Information Engineering, University of Bologna, Italy) ,  Mastromauro Claudio A. (Politecnico di Milano, Milan, Italy)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： EEEIC / I&CPS Europe  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,ハイブリッドダイオードスイッチの適用を検討し,キャパシタの寿命への正の影響を調べた。配電系統における分路コンデンサのスイッチングは,電流と電圧過渡現象への上昇を与えることができる。成分の寿命に影響する主要因子は,突入電流と通電過渡中に発生する過電圧,prestrikeと再衝突の確率である。スイッチング過電圧は,キャパシタ絶縁系における部分放電を引き起こし,それ故進行性劣化につながる可能性がある,完全な破壊が起きる。,過渡現象を受けるケーブルのために開発された確率論的寿命モデルを適用したコンデンサの数値的推定を得た。結果は,設計寿命でキャパシタ信頼性の低下,過渡現象を示し,伝統的なスイッチング装置が使用されている。キャパシタはより頻繁にスイッチされるような応用では,信頼性のより深刻な減少が発生する可能性がある。一方,同期スイッチの使用はいくつかの利点を提供する,すなわち:他のスイッチング技術と比較して,突入電流とスイッチング過電圧の実質的減少再点弧またはprestrikesを持つ確率の低減。旋回におけるこうした過程は,コンデンサの耐用年数を増加させた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 過電圧 ,  配電系統 ,  過渡現象 ,  *ダイオード ,  スイッチング ,  バイパス ,  信頼性 ,  突入電流 ,  *スイッチ ,  部分放電 ,  再点弧 ,  *コンデンサ ,  ケーブル ,  電圧 ,  耐用年数

分類 (4件)： 配電(事業者側)  (NB05040R) ,  開閉装置  (NB09030I) ,  電動機  (NB07030U) ,  電力変換器  (NB08030B)

タイトルに関連する用語 (3件)： ダイオード ,  コンデンサ ,  エージング