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J-GLOBAL ID：201702288011678851   整理番号：17A0503811

低出力X線管を利用したX線吸収分光

著者 (1件)： 山本孝 (徳島大 理工)
資料名： ぶんせき
号： 4  ページ： 150-151  発行年： 2017年04月05日 
JST資料番号： S0128B  ISSN： 0386-2178  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 主に2010年代に開発された低出力X線発生源を用いたX線吸収分光分析の装置とその可能性について示した。装置としては,空冷型小型X線管による実験室XAFS装置,von Hamos型XAFS装置について装置の概略,測定により得られたCoK殻XANESスペクトルおよびK₂NiF₆加水分解過程の差スペクトルを示した。このように実験室系装置でも高輝度,高強度を必要としない透過法XAFS測定では長時間を要さずに測定が可能であり,シンクロトロン放射光による試料損傷の心配がないという利点もあるので,装置の使い分けが可能である。

シソーラス用語： *X線管 ,  X線発生 ,  X線源 ,  *XANES ,  加水分解 ,  出力 ,  スペクトロメータ ,  コバルト
準シソーラス用語： X線発生装置 ,  低出力

分類 (2件)： 分析機器  (CC02020S) ,  その他の構造決定法  (BK01070L)

引用文献 (15件)：

• H. Hanson, W. W. Beeman : Phys. Rev., 76, 118 (1949).
• D. C. Koningsberger : “X-ray absorption: principles, applications, techniques of EXAFS, SEXAFS, and XANES”, eds. D. C. Koningsberger, R. Prins, pp. 163-210, (1988) John Wiley and Sons, New York
• 宇田川康夫,田路和幸:“X線吸収微細構造-XAFSの測定と解析”,宇田川康夫編,pp.110-126,(1993),学会出版センター.
• Z. Németh, J. Szlachetko, É. G. Bajnóczi, G. Vankó : Rev. Sci. Instrum., 87, 103105 (2016).
• G. T. Seidler, D. R. Mortensen, A. S. Ditter, A. J. Remesnik :J. Phys.. Conf. Ser., 712, 012015 (2016).

タイトルに関連する用語 (4件)： 低出力 ,  X線管 ,  X線吸収 ,  分光