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J-GLOBAL ID：201702288166238561   整理番号：17A0003118

高位合成における信頼性を考慮したクロックスキュー調整に関する一検討

A Note on Reliablity-Aware Clock Skew Scheduling in High-Level Synthesis

著者 (1件)： 井上恵介 (金沢工高専)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 116  号： 316(MSS2016 38-56)  ページ： 79-82  発行年： 2016年11月17日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本稿では耐放射線性を有するアプリケーション特化型集積回路(ASIC)の高位設計について議論する。自然界に存在する放射線の中で半導体メーカーが問題とする放射線は,アルファ線と中性子線である。これらの放射線はシリコンダイが維持している電位を破壊する。その結果,レジスタが記憶していた論理値が反転しASIC一時的に誤動作することがあり,これをソフトエラーという。近年,高位設計からソフトエラー問題が議論されている。代表的なモデル化手法として,演算器の信頼度を確率で表現し,性能とデータパス全体の信頼性のトレードオフの下で設計を進める手法がある。本研究では,ソフトエラー問題にクロックスキューを導入する手法を提案する。(著者抄録)

シソーラス用語： *システム設計 ,  信頼性 ,  *信号歪 ,  *調整 ,  耐放射線性 ,  ASIC ,  放射線 ,  α粒子ビーム ,  中性子ビーム ,  レジスタ ,  記号論理 ,  誤動作 ,  ソフトエラー ,  モデリング ,  演算器 ,  混合整数計画法
準シソーラス用語： *クロックスキュー ,  *高位合成 ,  高位設計

分類 (3件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  その他の電子回路  (NC05090X)

タイトルに関連する用語 (2件)： 高位合成 ,  クロックスキュー