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J-GLOBAL ID:201702288433644839   整理番号:17A1779395

改良された遺伝的アルゴリズムに基づく平面曲線プロファイルの誤差評価【Powered by NICT】

Error Evaluation of Planar Curve Profile Based on an Improved Genetic Algorithm
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: ICISCE  ページ: 312-316  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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平面曲線輪郭誤差の測定精度を改善するために,測定した曲線の自己適応マッチングを実現するために提案し,平面曲線プロファイルの誤差評価時の位置偏差を除去する改良された遺伝的アルゴリズム。アルゴリズムの効率と精度を改善するだけでなく,相対的な適応度関数を導入し,動的突然変異確率を設定し,再挿入による局所最適解に早熟収束を防止する。平面曲線輪郭誤差評価の例を用いて,伝統的な遺伝的アルゴリズムによる改良した遺伝的アルゴリズムを比較することである。単一走行結果の例を改良した遺伝的アルゴリズムは従来のものよりも速く走るとその精度は29.8%増加することを示した。反復走行結果はまた,改善された遺伝的アルゴリズムとその精度のより速い収束速度は39.1%増加し,伝統的なものと比較して示した。改良された遺伝的アルゴリズムによる測定した曲線の自己適応マッチング後,平面曲線輪郭誤差は52.4%減少し,曲線マッチングなしの値と比較した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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人工知能  ,  図形・画像処理一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
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