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J-GLOBAL ID：201702288692590176   整理番号：17A1261335

カーネル推定に基づくCMM動的測定誤差の解析【Powered by NICT】

Analysis of CMM dynamic measurement error based on kernel estimation

著者 (1件)： Mei Zhang (College of Electrical Engineering and Automation, Anhui University, Hefei, 230601, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： YAC  ページ： 1162-1166  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 複雑で互いに影響する動的測定誤差の原因を克服するために,機械の動的測定誤差モデルを測定座標におけるパラメータ同定法によるモデル化を困難にしている。本論文では,カーネル推定を用いる動的測定誤差値と三次元座標の間の複雑な関係と位置決め速度,接近距離と接触速度を含む直接計算機制御パラメータを解析した。モデルでは,測定誤差に対応する変数の差を考慮し,動的測定誤差を予測した。研究結果は,カーネル推定回帰モデルの予測効果は有意に改善されたことを示した。相互作用を考慮して通常の最小二乗回帰及び部分最小二乗回帰モデルよりも優れていた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 予測 ,  モデリング ,  相互作用 ,  *測定誤差 ,  最小二乗法 ,  位置決め ,  回帰モデル ,  計算機械
準シソーラス用語： 部分最小二乗回帰 ,  制御パラメータ ,  三次元座標 ,  パラメータ同定 ,  *動的計測 ,  *カーネル推定 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 果実とその加工品  (FJ11030Z) ,  食品の品質  (FJ01040F) ,  粉体工学  (XD03010M)

タイトルに関連する用語 (4件)： カーネル推定 ,  CMM ,  測定誤差 ,  解析