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J-GLOBAL ID：201702288784821591   整理番号：17A1703428

次世代酸素還元反応触媒の評価のためのKoutecky-Levich方程式による構築【Powered by NICT】

Building upon the Koutecky-Levich Equation for Evaluation of Next-Generation Oxygen Reduction Reaction Catalysts

著者 (6件)： Xu Shicheng (Mechanical Engineering, Stanford University, CA, 94305, USA) ,  Kim Yongmin (Mechanical Engineering, Stanford University, CA, 94305, USA) ,  Higgins Drew (Chemical Engineering, Stanford University, CA, 94305, USA) ,  Yusuf Maha (Chemical Engineering, Stanford University, CA, 94305, USA) ,  Jaramillo Thomas Francisco (Chemical Engineering, Stanford University, CA, 94305, USA) ,  Prinz Fritz B. (Mechanical Engineering, Stanford University, CA, 94305, USA)
資料名： Electrochimica Acta  (Electrochimica Acta)
巻： 255  ページ： 99-108  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0535B  ISSN： 0013-4686  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 酸素還元反応(ORR)触媒の性能は過去数十年にわたり大幅に改善した。これらの触媒は酸素飽和液体電解質を用いた回転円板電極(RDE)集合における電気化学的活性を評価した。Koutecky-Levich(K L)分析は,質量輸送効果の補正による界面動電情報を抽出するための簡単で効果的な方法を提供する。導出中になされた単純化仮定のいくつかに対処するためのK-L解析への拡張を提案した。特に,表面反応物の濃度減少を測定過電圧Nernst様式でに寄与し,触媒活性の過小評価につながる可能性があることを示した。K-L分析と一体となったNernst過電圧補正を適用することにより,質量輸送律速条件下で固有反応速度のより正確な測定が可能である。K-L法は反応次数1の仮定として,から測定条件のために1速度論的反応次数偏差を考察した。過電圧に及ぼす反応次数の依存性を調べる表面吸収剤のブロッキング効果を調べるための簡単な技術を提供することができることを示した。は,これらの拡張K-L法には,ORR触媒のための界面動電パラメータを抽出するためのRDE法の多様性増加を可能にすることを提案した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *酸素 ,  物質移動 ,  電解質 ,  反応速度 ,  回転円板 ,  ブロッキング ,  律速 ,  表面反応 ,  反応次数 ,  界面 ,  *触媒 ,  円盤電極 ,  過電圧 ,  触媒活性
準シソーラス用語： *酸素還元 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： Koutecky-Levich方程式 ,  回転円板電極 ,  酸素還元反応 ,  質量輸送 ,  反応次数

分類 (1件)： 電気化学反応  (CB07050F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 次世代 ,  酸素還元 ,  反応触媒 ,  評価 ,  方程式 ,  構築