Key Laboratory of Photoelectron Imaging Technique and System (Ministry of Education of China), School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China について
Ji Zhenbo について
Key Laboratory of Photoelectron Imaging Technique and System (Ministry of Education of China), School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China について
Chen Chen について
Key Laboratory of Photoelectron Imaging Technique and System (Ministry of Education of China), School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China について
Li Yanqiu について
Key Laboratory of Photoelectron Imaging Technique and System (Ministry of Education of China), School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China について
Optics and Lasers in Engineering について
干渉計 について
雑音安定度 について
低域フィルタ について
測定精度 について
LSI【IC】 について
サイドローブ について
高速Fourier変換 について
干渉縞 について
位相シフト について
雑音特性 について
位相 について
遮断周波数 について
位相情報 について
Moire法 について
位相差 について
横方向シヤリング干渉法 について
フリンジ解析 について
位相回復 について
高速Fourier変換 について
モアレ法 について
干渉測定と干渉計 について
せん断 について
干渉法 について
多方向 について
モアレ縞 について
位相 について