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J-GLOBAL ID：201702289439328697   整理番号：17A0547612

フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析法を用いた有機EL素子の劣化解析

著者 (4件)： 重松沙樹 (北陸先端科学技術大学院大) ,  宮里朗夫 (北陸先端科学技術大学院大) ,  酒井平祐 (北陸先端科学技術大学院大) ,  村田英幸 (北陸先端科学技術大学院大)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 64th  ページ： ROMBUNNO.14p-302-6  発行年： 2017年03月01日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *質量分析 ,  *発光ダイオード ,  劣化 ,  Fourier変換
準シソーラス用語： *イオンサイクロトロン共鳴質量分析 ,  有機EL素子

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (3件)： フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析 ,  有機EL素子 ,  解析