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J-GLOBAL ID：201702289862341808   整理番号：17A1276515

レーザ誘起過渡故障のモデル化に関するIR降下の重要性【Powered by NICT】

Importance of IR drops on the modeling of laser-induced transient faults

著者 (4件)： Viera Raphael A. Camponogara (LIRMM, CNRS, UMR N5506 (Montpellier, France)) ,  Maurine Philippe (LIRMM, CNRS, UMR N5506 (Montpellier, France)) ,  Dutertre Jean-Max (Ecole Nat. Sup. des Mines de St-Etienne (Gardanne, France)) ,  Bastos Rodrigo Possamai (Univ. Grenoble Alpes, CNRS, TIMA (Grenoble, France))
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： SMACD  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： レーザ故障注入攻撃は,いくつかのゲートの出力をフリップ一時の過渡電流を生成する局所的に過渡故障を誘導する。レーザにより誘起された過渡故障をシミュレートするために使用される多くのモデルはICに及ぼすレーザの影響をより良く表現するいくつかの要素を考察した。しかし,有意なIR降下を引き起こす,VDD,GND間のレーザ誘起電流は無視されてきた。IR降下CADツールを用いてレーザ誘起過渡故障のモデル化に誘起されたIR液滴の重要性を強調した。もレーザ誘起IR降下を過渡故障を単独生成にとって十分に強くなる可能性があることを示した。結果として,事例研究回路の故障の数はIR降下の影響が考慮されているかどうかを強調した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *レーザ ,  液滴 ,  事例研究 ,  *モデリング ,  電流
準シソーラス用語： CADツール ,  過渡電流 ,  故障注入 ,  *過渡故障 ,  *レーザ誘起 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  ダイオード  (NC03050R)

タイトルに関連する用語 (6件)： レーザ誘起 ,  過渡故障 ,  モデル化 ,  Ir ,  降下 ,  重要性