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J-GLOBAL ID：201702290085684452   整理番号：17A1264758

電子機器の電磁効果の確率しきい値に関する実験的研究【Powered by NICT】

Experimental study on probability threshold of electromagnetic effect of electronic equipment

著者 (5件)： Li Xin (Key Laboratory of Particle & Radiation Imaging, Ministry of Education, Department of engineering physics, Tsinghua University, Beijing, China, 100084) ,  Wu Ping (Key Laboratory of Particle & Radiation Imaging, Ministry of Education, Department of engineering physics, Tsinghua University, Beijing, China, 100084) ,  Meng Cui (Key Laboratory of Particle & Radiation Imaging, Ministry of Education, Department of engineering physics, Tsinghua University, Beijing, China, 100084) ,  Liu Yinong (Key Laboratory of Particle & Radiation Imaging, Ministry of Education, Department of engineering physics, Tsinghua University, Beijing, China, 100084) ,  Jin Hanbing (Key Laboratory of Particle & Radiation Imaging, Ministry of Education, Department of engineering physics, Tsinghua University, Beijing, China, 100084)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： APEMC  ページ： 347-349  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： EMIのもとでは,罹病性装置の明確な干渉しきい値はほとんど確認されことを発見した。本論文では,確率しきい値の概念を提唱し,ESD(静電気放電)EMP,矩形パルスとCバンドH PM(高出力マイクロ波)に対するディジタルカメラに及ぼす電磁感受性試験を行った。確率しきい値のカメラと効果変数に観測されたEMIの影響を示し,議論した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 矩形波 ,  カメラ ,  *電子装置 ,  干渉 ,  *磁気電気効果
準シソーラス用語： イミュニティ ,  ディジタルカメラ ,  静電気放電 ,  *実験研究 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  写真機とその付属品  (QF05030V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電子機器 ,  電磁効果 ,  確率 ,  しきい値 ,  実験的研究