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J-GLOBAL ID：201702291113187952   整理番号：17A1235853

曲線あてはめ回帰:XRFによる軽元素定量化の改善【Powered by NICT】

Curve-fitting regression: improving light element quantification with XRF

著者 (3件)： Kikongi Philippe (Pfizer Industrial Research Chair, Department of Chemical and Biotechnological Engineering, Universite de Sherbrooke, Sherbrooke, Quebec, Canada) ,  Salvas Joanny (Process Analytical Sciences Group, Pfizer Canada, Montreal, Quebec, Canada) ,  Gosselin Ryan (Pfizer Industrial Research Chair, Department of Chemical and Biotechnological Engineering, Universite de Sherbrooke, Sherbrooke, Quebec, Canada)
資料名： X-Ray Spectrometry  (X-Ray Spectrometry)
巻： 46  号： 5  ページ： 347-355  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0456B  ISSN： 0049-8246  CODEN： XRSPAX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光電励起後,主に放射Auger電子を緩和し,蛍光数観測された信号対雑音比(SNR)を制限する,を大幅に減少させるため軽元素はX線蛍光(XRF)分析による定量化が困難である。低SNR値はモデル構築における有害な転帰を有していた。ピーク高さに基づく通常の最小二乗(OLS)回帰における注目すべき,よりロバストな回帰法,部分最小二乗回帰のようなに影響を及ぼす。低SN比も低濃度より重い元素の観測できるが,本論文では,ホウ素に焦点を当てた。低SNRハードルを克服するために,本論文で詳細に述べた新しい方法,曲線あてはめ回帰(CFR)は,合計Gauss曲線とフルスキャンに適合した。方法論は四ホウ酸ナトリウム十水和物(硼砂)粉末試料を添加したプレスした微結晶性セルロースを用いて説明した。キャリブレーションセットは0%から21.5%~m/_mホウ素の範囲にあり,ロジウム源を用いたPANalytical Axios波長分散X線蛍光システムを用いて試験を行った。決定係数(R~2)=0.990と二乗平均平方根誤差キャリブレーション(RMSEC)=0.7%~m/_mの検量線は,OLS回帰とCFR対RMSEC=1.2%~m/_mで生産された。法の妥当性を種々の酸化物の混合物を含む17精白試料のセットで試験した。0.1%~m/_mの予測(RMSEP)の二乗平均平方根誤差は検証セットで得られた,OLS回帰とRMSEP=0.99%~m/_mに対するCFRを用いて,提案した方法の可能性を示した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： X線 ,  *曲線あてはめ ,  検量線 ,  硼砂 ,  最小二乗法 ,  ホウ素 ,  酸化物 ,  粉体 ,  ロバスト性 ,  蛍光 ,  モデリング ,  SN比 ,  水和物
準シソーラス用語： 低SN比 ,  *軽元素 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： WD-XRF ,  微量元素 ,  製剤 ,  定量化 ,  検出の限界

分類 (2件)： パターン認識  (JE07000S) ,  数値計算  (JE02000J)

タイトルに関連する用語 (4件)： 曲線あてはめ ,  XRF ,  軽元素 ,  定量化