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J-GLOBAL ID：201702291226506830   整理番号：17A1364517

重い電子系化合物CeRhIn₅薄膜のSTM/STS測定

著者 (9件)： 鳥井陽平 (京大 大学院) ,  末松知夏 (京大 大学院) ,  土師将裕 (京大 大学院) ,  笠原成 (京大 大学院) ,  笠原裕一 (京大 大学院) ,  寺嶋孝仁 (京大 大学院) ,  芝内孝禎 (東大) ,  花栗哲郎 (理研 CEMS) ,  松田祐司 (京大 大学院)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 2  ページ： ROMBUNNO.22aF21-9  発行年： 2017年09月25日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 重いFermi系 ,  電子系 ,  *超伝導体 ,  *セリウム ,  *ロジウム ,  *インジウム ,  *合金 ,  *薄膜 ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  *スペクトロスコピー ,  MBE成長 ,  その場観察 ,  *電子状態 ,  *スピン密度波 ,  *転移温度 ,  *臨界点 ,  重い電子系 ,  *重い電子系超伝導体 ,  *量子臨界点 ,  *走査トンネル電子分光法
準シソーラス用語： Ce ,  Rh ,  In ,  STM【顕微鏡】 ,  *走査トンネル分光 ,  分子線エピタクシー

分類 (3件)： 金属系超伝導体の物性  (BM04022R) ,  相転移・臨界現象一般  (BL04010V) ,  金属結晶の電子構造  (BM02050C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 重い電子系 ,  薄膜 ,  STM ,  STS