抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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試験は,ソフトウェアの開発プロセスライフサイクルにおける不可欠な部分と考えられている。試験は性能,ソフトウェアの品質と信頼性を改善した。関連テストケースの設計は,試験の品質の決定に主要な役割を果たしている。テストケース設計活性は試験の成功のために重要である。組合せ戦略をテストケースを生成するための最も広く使用されている方法の一つである。これらの戦略は試験(SUT)の下において,ソフトウェアにおけるパラメータの相互作用に起因する故障を検出し,いくつかのサンプリング機構を用いたカバーアレイテストスイートを生成した。パラメータ被覆の数の増加に伴い,t方向テストサイズセットは,指数関数的に増加する爆発問題をもたらす。組合せ試験(CT)における最小テストスイートを生成する技術を示した。使用した最適化手法は,テストケースの変異と選択のための欲張り計算戦略,除去のための局所的に最悪のテストケースを選択するのに使用されている。候補テストケースのプールから明らかにされた相互作用の最大数をカバーしないことをテストケースである。さらに,分枝限定法は交差に使用されている。入力交差としてのテストケース数の可能性のための分岐に使用された。テストケースが起こる境界は不可能である場合,その入力としての更なる選択テストケースの他の分岐。実験結果は再キャストIpog Dは既存のアルゴリズムと比較して良好な/匹敵する結果を生成することを示した。さらに,再キャストIPOG Dも文献に存在する多くの既知の可変強度被覆アレイ(VSCA)を向上させるために貢献してきた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
