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J-GLOBAL ID:201702293797029944   整理番号:17A1274010

PSDとAllan分散解析によるMEMS加速度計自己雑音の特性化【Powered by NICT】

Characterization of MEMS accelerometer self-noise by means of PSD and Allan Variance analysis
著者 (7件):
資料名:
巻: 2017  号: IWASI  ページ: 159-164  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,パワースペクトル密度とAllan分散技術による低コスト3軸MEMS加速度計の誤差の原因を研究した。これらの技術は,同じ製造者が製造したセンサの変動性を特性化するために十個の同一デバイスから得られた信号に適用した。著者らの解析は,同一に作成した加速度計は,低周波数で特に何らかの可変挙動を示すとして示した。は慣性航法または地震モニタリングシステムにおけるその使用前に極めて重要,各単一センサの完全なキャラクタリゼーション。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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時間,速度,加速度,角速度の計測法・機器 

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