特許

J-GLOBAL ID：201703000067202625

穀粒品質測定器

発明者： 青島 由武 ,  杉山 治樹 ,  花嶋 晃 ,  松下 悟 ,  名倉 孝
出願人/特許権者： 静岡製機株式会社
代理人 (1件)： 越川 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-168620
公開番号（公開出願番号）：特開2017-026623
出願日： 2016年08月30日
公開日（公表日）： 2017年02月02日
要約：

【課題】シュートの表面側に流下溝を覆う抑え蓋を接離可能に配設することにより、流下溝内に穀粒を一粒ずつ流下できて、各種穀粒の品質測定精度を十分に高めることが可能な穀粒品質測定器を提供する。【解決手段】筐体の上部に設けられた投入口と、該投入口の下方に配設された穀粒供給装置と、該穀粒供給装置の下方に配設されたシュートと、該シュートの下方に配設された撮像部と、を備えた穀粒品質測定器であって、シュートの表面に撮像部方向に指向する複数の流下溝が形成されると共に、該各流下溝の表面側の所定位置に抑え蓋が接離可能に配設されていることを特徴とする。前記抑え蓋は、所定の手動操作に基づき電動でショートに対して接離可能に構成される。【選択図】 図6

請求項（抜粋）：

筐体の上部に設けられた投入口と、該投入口の下方に配設された穀粒供給装置と、該穀粒供給装置の下方に配設されたシュートと、該シュートの下方に配設された撮像部と、を備えた穀粒品質測定器であって、 前記シュートの表面に前記撮像部方向に指向する複数の流下溝が形成されると共に、該各流下溝の表面側の所定位置に抑え蓋が接離可能に配設されていることを特徴とする穀粒品質測定器。

IPC (2件)：

G01N 21/85 ,  B65G 11/00

FI (2件)：

G01N21/85 A ,  B65G11/00 A

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 色彩選別装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-091527   出願人：服部勝