特許

J-GLOBAL ID：201703000251206269

分析装置、分析方法および分析プログラム

発明者： 落合 勝博
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (2件)： 岩壁 冬樹 ,  塩川 誠人
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013006639
公開番号（公開出願番号）：WO2015-071925
出願日： 2013年11月12日
公開日（公表日）： 2015年05月21日
要約：

分析装置101は、対象物が発する波形データを取得する第1のセンサ102と、対象物の状態の変化に影響を与える要素の時系列データを取得する第2のセンサ103と、波形データの周波数を取得する周波数変換手段105と、周波数に基づいた特徴量を計算する特徴量計算手段107と、特徴量に時系列データに対応した時刻を割り当てる時系列化手段108と、特徴量と時系列データとの間の相関を検査する相関検査手段113とを備える。

請求項（抜粋）：

対象物が発する波形データを取得する第1のセンサと、 前記対象物の状態の変化に影響を与える要素の時系列データを取得する第2のセンサと、 前記波形データの周波数を取得する周波数変換手段と、 前記周波数に基づいた特徴量を計算する特徴量計算手段と、 前記特徴量に前記時系列データに対応した時刻を割り当てる時系列化手段と、 前記特徴量と前記時系列データとの間の相関を検査する相関検査手段とを備えた ことを特徴とする分析装置。

IPC (5件)：

G01N 29/44 ,  G01M 99/00 ,  G01N 29/50 ,  G01M 7/02 ,  E02D 17/20

FI (5件)：

G01N29/44 ,  G01M99/00 Z ,  G01N29/50 ,  G01M7/00 A ,  E02D17/20 106

Fターム (19件)：

2D044EA07 ,  2G024AD34 ,  2G024BA22 ,  2G024BA27 ,  2G024CA13 ,  2G024CA17 ,  2G024CA21 ,  2G024CA26 ,  2G024CA30 ,  2G024DA12 ,  2G024DA16 ,  2G024DA22 ,  2G024FA04 ,  2G047BC04 ,  2G047BC11 ,  2G047GG06 ,  2G047GG10 ,  2G047GG32 ,  2G047GG36