特許
J-GLOBAL ID:201703000744590165
ナノ構造処理のための導電性補助層の形成及び選択的除去
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
園田・小林特許業務法人
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-103110
公開番号(公開出願番号):特開2016-195257
特許番号:特許第6126725号
出願日: 2016年05月24日
公開日(公表日): 2016年11月17日
請求項(抜粋):
【請求項1】 少なくとも1つの絶縁領域によって分離された露出金属島を有する基板と、
前記露出金属島上に配置された少なくとも1つのナノ構造と、
前記少なくとも1つの絶縁領域上に配置された少なくとも1つのナノ構造と、
前記基板と前記少なくとも1つのナノ構造との間に配置された導電性補助層と、
を備え、
前記導電性補助層は前記少なくとも1つのナノ構造の真下にのみ存在する、集積回路。
IPC (5件):
H01L 23/532 ( 200 6.01)
, H01L 21/768 ( 200 6.01)
, H01L 21/3205 ( 200 6.01)
, H01L 23/522 ( 200 6.01)
, H01L 21/285 ( 200 6.01)
FI (3件):
H01L 21/88 M
, H01L 21/88 J
, H01L 21/285 C
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