特許

J-GLOBAL ID：201703000774388360

測定装置及び測定方法

発明者： 勝本 洋一 ,  佐藤 一雅 ,  ブラン マルクオレル
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (10件)： 大森 純一 ,  高橋 満 ,  折居 章 ,  関根 正好 ,  中村 哲平 ,  吉田 望 ,  金子 彩子 ,  金山 慎太郎 ,  千葉 絢子 ,  白鹿 智久
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2014000666
公開番号（公開出願番号）：WO2014-155932
出願日： 2014年02月07日
公開日（公表日）： 2014年10月02日
要約：

測定装置は、発生部と、測定部とを具備し、流体の流れにより粒子が通過する狭窄路と、前記狭窄路付近に設けられた測定電極部とを有する流路デバイスを用いて、所定の測定を行う。前記発生部は、前記狭窄路における前記粒子を含む前記流体のコンダクタンスと、前記測定電極部により形成される電気二重層キャパシタンスとで規定される特性周波数より高く、かつ、前記粒子のサイズに応じたコンダクタンスを示す周波数領域を持つ交流電圧を前記測定電極部に発生させる。前記測定部は、前記交流電圧が前記測定電極部に印加された状態で、前記狭窄路を前記粒子が通過する時の少なくとも前記コンダクタンスを含む電気量を測定する。

請求項（抜粋）：

流体の流れにより粒子が通過する狭窄路と、前記狭窄路付近に設けられた測定電極部とを有する流路デバイスの、前記狭窄路における前記粒子を含む前記流体のコンダクタンスと、前記測定電極部により形成される電気二重層キャパシタンスとで規定される特性周波数より高く、かつ、前記粒子の大きさに応じたコンダクタンスを示す周波数領域を持つ交流電圧を前記測定電極部に発生させる発生部と、 前記交流電圧が前記測定電極部に印加された状態で、前記狭窄路を前記粒子が通過する時の少なくとも前記コンダクタンスを含む電気量を測定する測定部と を具備する測定装置。

IPC (1件)：

G01N 15/12

FI (1件)：

G01N15/12 A