特許
J-GLOBAL ID：201703000811069238
反射特性の測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
大塚 康徳
, 高柳 司郎
, 大塚 康弘
, 木村 秀二
, 下山 治
, 永川 行光
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-281756
公開番号（公開出願番号）：特開2014-126408
特許番号：特許第6053506号
出願日： 2012年12月25日
公開日（公表日）： 2014年07月07日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 被検面の反射特性を測定する測定装置であって、
第1面光源を含み該第1面光源からの光で前記被検面を照明する照明部と、
前記照明部により照明された前記被検面からの反射光を受ける受光面を含み、該受光面に形成された第1光強度分布を検出する検出部と、
メモリと、
前記検出部により検出された前記第1光強度分布と前記メモリにより保存された情報とに基づいて、前記第1面光源の替りに該第1面光源とは形状および大きさのうち少なくとも一方が異なる第2面光源が配置された場合に前記被検面からの反射光により前記受光面に形成されて前記検出部により検出されうる第2光強度分布を推定し、前記第2光強度分布に基づいて前記被検面の前記反射特性を得る処理部と、を含み、
前記情報は、前記照明部により照明された互いに異なる複数の反射特性を有する複数の被検面からの反射光により前記受光面に形成されて前記検出部により検出されうる複数の第3光強度分布と、前記第1面光源の替りに点光源が配置された場合に前記照明部により照明された前記複数の被検面からの反射光により前記受光面に形成されて前記検出部により検出されうる複数の第4光強度分布との間の関係を示す、
ことを特徴とする測定装置。
IPC (2件)：
G01N 21/55 ( 201 4.01)
, G01N 21/57 ( 200 6.01)
