特許

J-GLOBAL ID：201703001037165349

透磁率・誘電率センサ及び透磁率・誘電率検出方法

発明者： 大隅 和彦
出願人/特許権者： 日立金属株式会社
代理人 (2件)： 河野 英仁 ,  河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-246625
公開番号（公開出願番号）：特開2017-111052
出願日： 2015年12月17日
公開日（公表日）： 2017年06月22日
要約：

【課題】一つのセンサにて、被検出物の透磁率の変化または誘電率の変化を選択的に検出できる透磁率・誘電率センサ、及び、透磁率・誘電率センサを用いた透磁率・誘電率検出方法を提供する。【解決手段】第1コンデンサ及び複数のサブコイルを積層してなり、各層の動作を有効又は無効に変更可能な第1コイルを含んで発振する第1発振回路の発振周波数と、該第1発振回路の前記第1コンデンサ及びサブコイルとは異なる第2コンデンサ及び複数のサブコイルを積層してなり、各層の動作を有効又は無効に変更可能な第2コイルを含んで発振する第2発振回路の発振周波数とを夫々計測し、計測した発振周波数の差分を算出し、算出した差分を透磁率または誘電率に変換する。【選択図】図16

請求項（抜粋）：

被検出物の透磁率または誘電率を選択的に検出する透磁率・誘電率センサであって、 第1コンデンサ及び複数のサブコイルを積層してなり、各層の動作を有効又は無効に変更可能な第1コイルを含んで発振する第1発振回路と、 該第1発振回路の前記第1コンデンサ及びサブコイルとは異なる第2コンデンサ及び複数のサブコイルを積層してなり、各層の動作を有効又は無効に変更可能な第2コイルを含んで発振する第2発振回路と、 前記第1発振回路及び第2発振回路夫々における発振周波数を計測する計測手段と、 該計測手段にて計測した発振周波数の差分を算出する算出手段と、 該算出手段にて算出した差分を透磁率または誘電率に変換する変換手段と を備えることを特徴とする透磁率・誘電率センサ。

IPC (2件)：

G01R 33/02 ,  G01N 27/72

FI (2件)：

G01R33/02 D ,  G01N27/72

Fターム (17件)：

2G017AB07 ,  2G017AD69 ,  2G017BA03 ,  2G017BA05 ,  2G017CA09 ,  2G017CA22 ,  2G017CB04 ,  2G017CC02 ,  2G017CD04 ,  2G053AA29 ,  2G053AB07 ,  2G053BA04 ,  2G053BC02 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CA19 ,  2G053DA01