特許
J-GLOBAL ID：201703001880967791

自動分析装置

発明者：
松原 栄一

松原 栄一 について

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田中 佳幸

田中 佳幸 について

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千葉 英康

千葉 英康 について

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芝 天夫

芝 天夫 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (3件)： 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  渡辺 敏章
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-213306
公開番号（公開出願番号）：特開2015-075442
特許番号：特許第6198560号
出願日： 2013年10月11日
公開日（公表日）： 2015年04月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 試料が注入された複数の試料容器を保持するサンプルディスクと、複数の反応容器を保持する反応ディスクと、試薬が注入された複数の試薬容器を保持する試薬ディスクと、前記試料容器内の試料を前記反応容器に分注する試料分注機構と、前記試薬容器内の試薬を前記反応容器に分注する試薬分注機構とを有し、前記試料の定性又は定量分析を実行する分析部と、 前記分析部の測定結果を格納したテーブルを記憶する第1の記憶装置と、 検査項目毎に設定された再検分析の必要性の有無に関する情報と、自動再検のスケジューリング時に参照される再検優先度の情報とを格納する第2の記憶装置と、 前記分析部による前記検体に対する初回分析を制御すると共に、前記初回分析の結果に対してアラームが付されている項目についての再検分析を制御する制御部であり、同じ再検優先度を有する分析項目の測定結果が全て出力されたタイミングで、当該同じ再検優先度を有する分析項目についての再検分析をまとめて実行するようにスケジューリングする制御部と を有する自動分析装置。
IPC (1件)：
G01N 35/02 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01N 35/02 J
引用特許：
出願人引用 (6件)
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