特許

J-GLOBAL ID：201703002150633045

水素ガス検査方法および水素ガス検査装置

発明者： 長崎 純久 ,  鈴木 信靖 ,  杉尾 幸彦
出願人/特許権者： パナソニックIPマネジメント株式会社
代理人 (2件)： 鎌田 耕一 ,  古田 昌稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-093827
公開番号（公開出願番号）：特開2017-026599
出願日： 2016年05月09日
公開日（公表日）： 2017年02月02日
要約：

【課題】無色、無臭である水素ガスの存在の有無および/または水素ガスの濃度を非接触で安全に検査すること。【解決手段】半導体発光素子からの出射光を蛍光体によって前記出射光よりも長波長の光に波長変換し、前記波長変換された光を検査対象空間に対して照射し、前記波長変換された光が照射された前記検査対象空間で発生した散乱光のうち前記検査対象空間に存在する水素ガスによって生じたラマン散乱光を検出することにより、前記水素ガスの存在の有無および/または前記水素ガスの濃度を検査する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

半導体発光素子からの出射光を蛍光体によって前記出射光よりも長波長の光に波長変換し、前記波長変換された光を検査対象空間に対して照射し、 前記波長変換された光が照射された前記検査対象空間で発生した散乱光のうち前記検査対象空間に存在する水素ガスによって生じたラマン散乱光を検出することにより、前記水素ガスの存在の有無および/または前記水素ガスの濃度を検査する、 水素ガス検査方法。

IPC (2件)：

G01N 21/65 ,  G01M 3/38

FI (2件)：

G01N21/65 ,  G01M3/38 L

Fターム (18件)：

2G043AA01 ,  2G043CA01 ,  2G043EA03 ,  2G043GA01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G067AA14 ,  2G067AA22 ,  2G067BB15 ,  2G067BB25 ,  2G067CC04 ,  2G067DD11 ,  2G067EE08