特許
J-GLOBAL ID:201703002565349245

半導体装置及び半導体装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 青木 篤 ,  伊坪 公一 ,  樋口 外治 ,  小林 龍
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-085851
公開番号(公開出願番号):特開2014-209511
特許番号:特許第6107357号
出願日: 2013年04月16日
公開日(公表日): 2014年11月06日
請求項(抜粋):
【請求項1】 第1面と第2面とを有する第1半導体基板と、 前記第1半導体基板を貫通し、前記第2面から突出する突出部を有する貫通電極と、 前記突出部の側面を覆い、前記突出部の端面を露出させる開口部を有し、前記突出部の長さよりも厚い厚さを有する前記第2面上の絶縁層と、 を備え、 前記端面が前記第1面側に凹む形状を有する半導体装置。
IPC (3件):
H01L 25/065 ( 200 6.01) ,  H01L 25/07 ( 200 6.01) ,  H01L 25/18 ( 200 6.01)
FI (1件):
H01L 25/08 Z
引用特許:
審査官引用 (1件)

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