特許
J-GLOBAL ID：201703003579633350
データ分析システム及びその方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
青稜特許業務法人
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013076992
公開番号（公開出願番号）：WO2015-049769
出願日： 2013年10月03日
公開日（公表日）： 2015年04月09日
要約：
データ分析システムは、入力した分析入力情報に指定された構造データに対応する非構造データを取得する非構造データ取得部、非構造データ取得部が取得した非構造データからメタデータを抽出し、抽出したメタデータの間の階層構造を示す階層管理メタデータを作成するメタデータ抽出部、入力した分析入力情報に指定された目的軸及び目標分析精度に対応する分析結果として、階層管理メタデータを参照して分析用データを段階的に作成し、作成した分析用データに基づいて、分析精度が前記目標分析精度を超えた段階の、分析精度の向上に寄与したメタデータを含む重要カラムリストを作成するデータ分析部、および、データ分析部が作成した分析用データを参照し、分析精度を求める分析精度評価部を有する。
請求項（抜粋）：
入力した分析入力情報に指定された構造データに対応する非構造データを取得する非構造データ取得部、
前記非構造データ取得部が取得した前記非構造データから、メタデータを抽出し、抽出した前記メタデータの間の階層構造を示す階層管理メタデータを作成するメタデータ抽出部、
入力した前記分析入力情報に指定された目的軸及び目標分析精度に対応する分析結果として、前記階層管理メタデータを参照して分析用データを段階的に作成し、作成した前記分析用データに基づいて、分析精度が前記目標分析精度を超えた段階の、前記分析精度の向上に寄与した前記メタデータを含む重要カラムリストを作成するデータ分析部、および
前記データ分析部が作成した前記分析用データを参照し、前記分析精度を求める分析精度評価部を有することを特徴とするデータ分析システム。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G06F17/30 220Z
, G06F17/30 170A
