特許
J-GLOBAL ID:201703003818904530

複素透磁率測定装置とその測定方法および応用。

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-024203
公開番号(公開出願番号):特開2014-153241
特許番号:特許第6182695号
出願日: 2013年02月12日
公開日(公表日): 2014年08月25日
請求項(抜粋):
【請求項1】磁気を用いた透磁率測定において、基準部材あるいは被測定部材と磁気的に接触させる磁気プローブヨークと、磁気プローブヨークに巻き回した励磁コイルと、前記磁気プローブヨークの磁束を検出する手段と、ディジタル発振器と、前記ディジタル発振器からサンプリング周波数、ゲイン変換を通して励磁コイルを励磁するDA変換器と、励磁コイルの電圧と電流を検出する手段と、基準部材に磁気的に接触させた時、前記磁気プローブヨークの磁束を同定する手段と、被測定部材を磁気的に接触させた時、前記磁気プローブヨークの磁束が前記の同定した時の磁束となるよう制御する手段を有することを特徴とする透磁率測定装置。
IPC (1件):
G01R 33/16 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01R 33/16
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 特開昭64-039571
審査官引用 (1件)
  • 特開昭64-039571

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