特許
J-GLOBAL ID：201703003840775540

A/D変換回路、クーロンカウンタ回路、電子機器

発明者：
鮒谷 研治

鮒谷 研治 について


出願人/特許権者：
ローム株式会社

ローム株式会社 について


代理人 (2件)： 森下 賢樹 ,  真家 大樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-105397
公開番号（公開出願番号）：特開2017-212643
出願日： 2016年05月26日
公開日（公表日）： 2017年11月30日
要約：
【課題】A/Dコンバータの信頼性を向上する。【解決手段】第1マルチプレクサ104は、アナログ信号VANLGと診断用電圧VDIAGを受け、それらのひとつを選択して出力する。A/Dコンバータ106は、第1マルチプレクサ104の出力信号S1をデジタル信号S2に変換する。メモリ108は、正常であるA/Dコンバータ106に診断用電圧VDIAGを入力したときのデジタル信号S2の期待値に応じた診断データS4を格納する。ロジック回路110は、通常動作時において第1マルチプレクサ104にアナログ信号VANLGを選択させて、そのとき得られるデジタル信号S2を処理する。またロジック回路110は自己診断時において第1マルチプレクサ104に診断用電圧VDIAGを選択させ、そのとき得られるデジタル信号S2と診断データS4の関係にもとづいて、A/Dコンバータ106の異常を検出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
所定の診断用電圧を生成する基準電圧源と、 アナログ信号と前記診断用電圧を受け、それらのひとつを選択して出力する第1マルチプレクサと、 前記第1マルチプレクサの出力信号をデジタル信号に変換するA/Dコンバータと、 正常である前記A/Dコンバータに前記診断用電圧を入力したときの前記デジタル信号の期待値に応じた診断データを格納するメモリと、 (i)通常動作時において前記第1マルチプレクサに前記アナログ信号を選択させて、そのとき得られる前記デジタル信号を処理するとともに、(ii)自己診断時において前記第1マルチプレクサに前記診断用電圧を選択させ、そのとき得られる前記デジタル信号と前記診断データの関係にもとづいて、前記A/Dコンバータの異常を検出するロジック回路と、 を備えることを特徴とするA/D変換回路。
IPC (1件)：
H03M 1/10
FI (1件)：
H03M1/10 C
Fターム (6件)：
5J022AA01 ,  5J022AC04 ,  5J022CB01 ,  5J022CD02 ,  5J022CF01 ,  5J022CF08
引用特許：
審査官引用 (4件)
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