特許
J-GLOBAL ID：201703004058394967
光子束の分光測定用の処理装置及び方法
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木村 高久
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-522054
特許番号：特許第6193854号
出願日： 2012年07月23日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 検出器(15)の感光素子によって受け取られ得るX線光子束のエネルギーに関する分光測定のための処理方法であって、前記方法が次の連続的ステップ:
・前記感光素子によって受け取られた各X線光子を、電気信号であってその特性が考慮される前記X線光子のエネルギーを表わす電気信号へ変換するステップ(31)と、
・第一の低域通過フィルター(162)であってその遮断周波数が、前記X線光子束に応じて、前記X線光子束が大きいほど前記遮断周波数が高くなるように調整される第一の低域通過フィルター(162)を用いて、各々の電気信号を濾過するステップ(32)と、
・各々の濾過された電気信号の特性を決定するステップ(33)と、
・前記濾過された電気信号の特性に応じて、受け取られた前記X線光子束に関するエネルギー・スペクトル(351、352)を生成するステップ(34)と、
・第二の低域通過フィルター(165)であってその遮断周波数が、前記X線光子束に応じて、前記X線光子束が大きいほど前記遮断周波数が低くなるように調整される第二の低域通過フィルター(165)を用いて、前記エネルギー・スペクトル(351、352)を濾過するステップ(35)とを含む方法。
IPC (4件)：
G01T 1/36 ( 200 6.01)
, G01T 1/17 ( 200 6.01)
, G01N 23/08 ( 200 6.01)
, A61B 6/00 ( 200 6.01)
G01T 1/36 A
, G01T 1/17 H
, G01N 23/08
, A61B 6/00 333
