特許
J-GLOBAL ID：201703004127152261
ビーム輸送系及び粒子線治療装置
発明者：
,
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
大岩 増雄
, 竹中 岑生
, 村上 啓吾
, 吉澤 憲治
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2013068981
公開番号（公開出願番号）：WO2015-004772
出願日： 2013年07月11日
公開日（公表日）： 2015年01月15日
要約：
小型化のシンクロトロンから出射されるビームであっても、ビームの照射位置においてビームの色収差をほぼゼロにできるビーム輸送系を得ることを目的にする。 本発明のビーム輸送系(4)によれば、光学パラメータ計算装置(17)が、ビーム解析装置(14)により計算された、ビームプロファイルモニタ(11)における、ビーム位置の時間変動量またはビーム径であるビーム時間変動関連量に基づいて、加速器(3)のビーム軌道上に設定されたビーム輸送系(4)の設計始点(S)における荷電粒子ビーム(31)の運動量分散関数(η、η’)である始点運動量分散関数を計算し、始点運動量分散関数と、プロファイルデータを検出した際の照射位置(T)における当初条件とを初期条件とした光学パラメータを計算することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
加速器から出射された荷電粒子ビームを照射位置へ輸送するビーム輸送系であって、
前記荷電粒子ビームを偏向する、少なくとも1つの偏向電磁石と、
前記荷電粒子ビームを収束または発散させる、少なくとも2つの四極電磁石と、
前記荷電粒子ビームのプロファイルデータを検出する、少なくとも1つのビームプロファイルモニタと、
前記プロファイルデータに基づいて、前記ビームプロファイルモニタにおける、ビーム位置の時間変動量またはビーム径であるビーム時間変動関連量を計算するビーム解析装置と、
前記ビーム輸送系の光学パラメータを計算する光学パラメータ計算装置と、
前記光学パラメータ計算装置により計算された前記光学パラメータに基づいて、前記偏向電磁石及び前記四極電磁石の励磁電流を設定する電磁石電源と、を備え、
前記光学パラメータ計算装置は、
前記ビーム時間変動関連量に基づいて、前記加速器のビーム軌道上に設定された前記ビーム輸送系の設計始点における前記荷電粒子ビームの運動量分散関数である始点運動量分散関数を計算し、
前記始点運動量分散関数と、前記プロファイルデータを検出した際の前記照射位置における当初条件とを初期条件とした前記光学パラメータを計算することを特徴とするビーム輸送系。
IPC (2件)：
FI (4件)：
H05H13/04 M
, A61N5/10 H
, H05H13/04 D
, H05H13/04 G
2G085AA13
, 2G085BA05
, 2G085BA11
, 2G085BA13
, 2G085BA14
, 2G085BA15
, 2G085BB17
, 2G085BC15
, 2G085CA15
, 2G085CA20
, 2G085CA26
, 2G085CA27
, 4C082AA01
, 4C082AC05
, 4C082AE01
, 4C082AG13
