特許
J-GLOBAL ID：201703004158401472
偏波解析装置、偏波解析方法、物性測定装置、及び物性測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
伊東 忠重
, 伊東 忠彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-545840
特許番号：特許第6040162号
出願日： 2012年10月09日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 電磁波を発生する電磁波発生源と、
電気光学効果を有する非線形光学結晶と、
前記結晶を角周波数ωで前記電磁波の入射に対して相対的に回転させる回転機構と、
前記電磁波による前記結晶の照射と同期して、当該結晶にプローブ光パルスを入射する光学系と、
前記結晶を透過したプローブ光パルスの互いに直交する光成分の強度差信号を検出する検出器と、
前記強度差信号からω成分と3ω成分の少なくとも一方を抽出し、前記抽出したω成分及び/または3ω成分に基づいて前記電磁波の偏波方向と電場振幅を決定する解析部と、
を有する偏波解析装置。
IPC (2件)：
G01N 21/21 ( 200 6.01)
, G01J 4/04 ( 200 6.01)
G01N 21/21 Z
, G01J 4/04 Z
